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引用本文:   郭学文. 微分电位溶出仪及其性能测试. 分析化学, 1986, 14(3): 166-170. [复制]

Citation:   Guo Xuewen . DIFFERENTIAL POTENTIOMETRIC STRIPPING ANALYZER AND ITS ANALYTICAL PERFORMANCE. Chinese Journal of Analytical Chemistry, 1986, 14(3): 166-170. [复制]

微分电位溶出仪及其性能测试

收稿日期: 1985-01-03

DIFFERENTIAL POTENTIOMETRIC STRIPPING ANALYZER AND ITS ANALYTICAL PERFORMANCE

Received Date:  1985-01-03

自Jagner 1976年提出电位溶出分析以来,出现了许多各具特色的仪器。Anderson等于1982年提出用ISS820电位溶出分析仪配用微处理机[1],使PSA灵敏度大大提高,1981年,Christensen等提出微分电位溶出分析(DPSA)[2]。1983年,Alex Hu等用微处理机配用多道分析仪亦实现了DPSA[3]。但关于微分电位溶出分析峰高与浓度关系未见报导。国内在81年仅有6篇关于PSA的文献。

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微分电位溶出仪及其性能测试

郭学文

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